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J200 复合型激光进样-光谱元素分析系统

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J200 复合型激光进样-光谱元素分析系统

J200 Tandem LA - LIBS-ICP-MS 


一、技术背景
    产品来自于美国ASI公司,是一家专门研究激光剥蚀及光谱分析技术的高科技公司,研发人员均为美国劳伦斯伯克利国家实验室的科研人员。公司总裁Russo博士为美国劳伦斯伯克利国家实验室的资深科学家,从事激光剥蚀及激光光谱元素分析技术30多年,创造性的将激光剥蚀技术(LA技术)及激光诱导击穿光谱技术(LIBS技术)相融合,研发了J200系列激光剥蚀进样及光谱分析系统。

二、系统功能及用途
    同J200纳秒激光剥蚀进样复合系统。

三、
工作原理
    同J200纳秒激光剥蚀进样复合系统。

四、系统组成
    同J200纳秒激光剥蚀进样复合系统。

五、应用领域

    同J200纳秒激光剥蚀进样复合系统。

六、硬件特点
    高重复率且高度稳定Yb-based的飞秒级激光,使用寿命长,不会对光学器件造成损坏。同时,J200飞秒激光剥蚀进样复合系统对于外界环境和温度没有特殊的要求。
    其它特点同
J200纳秒激光剥蚀进样复合系统。

七、软件特点
    
J200纳秒激光剥蚀进样复合系统。

八、技术优势
    1、基本无热效应,无元素分馏现象发生。
   
 飞秒级的脉冲宽度使样品直接被汽化,然后去激态形成类似于晶体的纳米级均匀颗粒而被载气输送进ICP-MS中,没有样品熔化的过程,所以基本无热效应,无元素分馏现象发生。

                          飞秒与纳秒热效应影响示意图
    2、LIBS模块可以检测到化学周期表上的几乎全部元素,包括质谱仪所不能检测到的N、H、O、Li、Be、Na等元素。
   
 在飞秒LA剥蚀样品时,汽化后的样品去激态过程中会形成等离子光谱,而这些光谱包含了所测样品区域的所有元素,相当于所测样品区域的“化学指纹”。然后,LIBS模块就会通过光谱收集镜头对形成的光谱曲线进行收集,经过检测器和化学分析软件就可以检测出H、O、N、Li、Be、Na等化学周期表元素的分布和含量。
    J200激光剥蚀进样复合系统还可根据用户的需求定制高解析度的光谱仪,用于钪、钇和镧系元素等17种化学元素元素的检测。
    3、
真实的TruLIBS谱线库比NIST谱线库更准确,分析也更清晰,同时支持自测谱线上传。
    TruLIBS谱线库是劳伦斯伯克利实验室在30多年激光谱线研究的基础上所开发出的真实等离子体谱线库,每条谱线都是经过真实实验所得到的,元素识别、标记比NIST谱线库更快速、更准确,而且还可通过软件的滤波技术及SMARTLIBS 算法,计算、比较,剔除减少不相关和不可能的元素,减少错误元素的干扰。同时,用户还可将自己实验得到的谱线上传至谱线库作为以后研究的对比谱线。

                   上图为NIST谱线库分析NIST 629合金所识别出的谱线
               下图为TruLIBS谱线库分析NIST 629合金所识别出的谱线

    4、来自于劳伦斯伯克利实验室的强大技术支持,帮助用户进行精确完美的研究。
    ASI公司的技术工程师全部来自于劳伦斯伯克利实验室,RUSSO博士更是30多年来一直从事激光剥蚀技术及其应用的工作,技术基础雄厚。我们可以根据不同的实验需要帮助用户同时调整ICP-MS和LA的参数,完美地控制好气流,从而帮助实验者得到精确的结果。
    5、强大的软件与ICP-MS仪器协同操作
    J200 Femto LA系统软件 功能直观、带图形界面,易浏览不同的样品区域,设立灵活的采样方式。 采用双向通信控制,协同操作ICP-MS仪器达到了史无前例的水平。软件让用户通过基本单元“处方”来制定各个硬件工作的时间序列命令集,并通过串联多个“处方”,让系统自动完成各个测量工作。
    6、
“处方”功能让系统自动运行
    用户可将多个硬件部件运行命令集合,并按时间顺序排列,形成 “处方”。制定完成的处方,以后也可以调用。多个处方可编制成组,自动顺序执行,使测量工作高度自动化。同时,还可以简单采用“recall”命令调用“处方”,重复实验,也可复制部分“处方”,结合新的命令,完成新的采样过程。

九、主要参数

    激光: 波长分别为343nm、515nm、1030nm三种,高度稳定的Yb-based飞秒激光器
    激光脉冲宽度:≤500fsec
    激光光斑:3μm—100μm,可自动连续调节
    LIBS检测器:扫描型
Czerny   Turner光谱仪/ICCD检测器、Echelle光谱仪/ICCD检测器、4通道/6通道CCD检测器三种可选


十、产地:美国


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